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電極的對數(shù)對叉指電極傳感器信噪比的大小基本沒有影響。叉指電極間距的減小可以使信噪比增大的同時(shí)提高信號幅。如應(yīng)用于化學(xué)傳感領(lǐng)域，叉指電極間距的減小還可以有效地提高化學(xué)反應(yīng)的速率、加快建立反應(yīng)進(jìn)行過程，從而能夠提高傳感器性能，并縮短叉指電極傳感器反應(yīng)的時(shí)間。叉指電極傳感器的電極寬度的減小在提高信噪比的同時(shí)會使檢測信號的幅值降低。柔性叉指電極微型探針臺是一款專門用于叉指電極的經(jīng)濟(jì)型探針臺。

小型真空探針臺高溫?zé)崤_KT-0904T-R主要用于為被測芯片提供一個高溫的變溫測量環(huán)境，以便測量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差。

叉指電極傳感器主要包括四個結(jié)構(gòu)參數(shù)，分別為:叉指電極對的對數(shù)、叉指寬度、相鄰叉指之間的間隙距離以及叉指電極的厚度。這四個參數(shù)對基于叉指電極的生化傳感器關(guān)鍵性能指標(biāo)都有很大影響。硅基叉指電極結(jié)構(gòu)高低溫探針臺KT-Z4019MRL4T是用于叉指電極的一款性價(jià)比很高的探針臺，可進(jìn)行高溫和低溫，采用純銀熱臺，有導(dǎo)熱更好，不易氧化等特點(diǎn)。

高溫?zé)崤_小型真空探針臺KT-0904T-R在高溫真空環(huán)境下的芯片測試、LD/LED/PD測試、光纖光譜特性測試、材料/器件的IV/CV特性測試、霍爾測試、電磁輸運(yùn)特性、高頻特性測試等

微間距的叉指電極是一種為常用的微間距電極結(jié)構(gòu)，它被廣泛的應(yīng)用于非破壞性測試、電子通訊、化學(xué)測試等多個領(lǐng)域。 一般來說，不同的應(yīng)用領(lǐng)域?qū)τ诓嬷鸽姌O的形狀、幾何學(xué)尺寸、加工工藝、材料的選擇、建模分析、系統(tǒng)集成以及數(shù)據(jù)的分析都有不同的要求，因此對于不同的領(lǐng)域我們應(yīng)該區(qū)分對待。硅基叉指電極微型探針臺KT-Z4019MRL4T是一款專門用于叉指電極的經(jīng)濟(jì)型探針臺。